实验内容:
1、测量透明介质薄膜厚度和折射率。
2、测量布儒斯特角,验证马吕斯定律及偏光分析等偏振实验。


技术特点:
1、采用消光法测介质膜/金属膜光学参量;
2、四点测量法减小系统误差;
3、内外双盘结构,偏振元件刻度游标读数精度高。